王秦平理事长在国际微电子计量与测试技术研讨会上的讲话

 

    大家早上好。

    自上世纪50年代第一块集成电路诞生以来，微电子技术的发展突飞猛进，成为信息时代的重要推动力。微电子技术的发展离不开计量测试技术的支撑，而且需要比一般电子设备更加高精尖的测试设备；可以说，微电子计量测试是近代电子设备的关键和基础专业技术。在航空航天、通讯、交通等领域，尤其是国防领域，微电子计量测试技术有时可谓性命攸关，差之毫厘，失之千里。

    中国船舶重工集团公司709所微电子一级计量站的科技人员，经过20多年坚持不懈地奋力拼搏，取得了一批先进的计量测试标准和技术成果，逐步在微电子计量测试方面形成了自身特色，为国家经济建设做出了重要贡献。在新形势下，迫切需要加强国际国内学术界与工业界的交流和沟通，创建我国自有的核心技术。中船重工709所倡议并筹备在武汉召开本次国际微电子计量与测试技术研讨会，为广大微电子计量界的科技人员提供了一个很好的学习交流的平台和机会。在此，我代表中国计量测试学会向大会的召开表示衷心的祝贺，向来自海内外的朋友们表示热烈的欢迎。

    中国计量测试学会成立于1961年，是国家一级学会，接受国家质检总局和中国科协的业务领导，并代表中国作为国际测量技术联合会（IMEKO）的组成成员。目前，学会有团体会员单位400多个，高级会员1300多人，普通会员10000多人，其中，两院院士9人，教授、研究员及高级工程师的比例占95%以上，聚集了我国计量测试领域一大批具有较高学术水平的专业科技人才。中国计量测试学会每年都组织多次国内外的计量学术交流活动，让国内科技人员把握当前计量领域的发展方向，了解计量科学研究的最新进展，借鉴世界各国计量工作的先进经验，以推动我国计量科学研究的发展。中国计量测试学会今后还将一如既往地支持国内科研院所举办各种形式的计量学术交流活动。在此我也感谢大家多年来对学会工作的大力支持和帮助。

    预祝大会取得圆满成功。